Skip to Main Content
Ingeniería de la observabilidad
book

Ingeniería de la observabilidad

by Charity Majors, Liz Fong-Jones, George Miranda
September 2024
Intermediate to advanced content levelIntermediate to advanced
320 pages
10h 38m
Spanish
O'Reilly Media, Inc.
Book available
Content preview from Ingeniería de la observabilidad

Capítulo 17. Suficientemente barato y preciso: Muestreo

Este trabajo se ha traducido utilizando IA. Agradecemos tus opiniones y comentarios: translation-feedback@oreilly.com

En el capítulo anterior, vimos cómo debe configurarse un almacén de datos para almacenar y recuperar eficazmente grandes cantidades de datos de observabilidad. En este capítulo, veremos técnicas para reducir la cantidad de datos de observabilidad que puedes necesitar almacenar. A una escala lo suficientemente grande, los recursos necesarios para retener y procesar cada uno de los eventos pueden llegar a ser prohibitivos y poco prácticos. El muestreo de eventos puede mitigar las compensaciones entre el consumo de recursos y la fidelidad de los datos.

Este capítulo examina por qué es útil el muestreo (incluso a pequeña escala), las distintas estrategias que se suelen utilizar para muestrear datos y las compensaciones entre esas estrategias. Utilizamos ejemplos basados en código para ilustrar cómo se aplican estas estrategias e introducimos progresivamente conceptos que se basan en ejemplos anteriores. El capítulo comienza con esquemas de muestreo más sencillos aplicados a sucesos individuales, como introducción conceptual al uso de una representación estadística de los datos en el muestreo. A continuación, avanzamos hacia estrategias de muestreo más complejas a medida que se aplican a una serie de eventos relacionados (intervalos de traza) y propagan la información necesaria para reconstruir tus datos tras el ...

Become an O’Reilly member and get unlimited access to this title plus top books and audiobooks from O’Reilly and nearly 200 top publishers, thousands of courses curated by job role, 150+ live events each month,
and much more.
Start your free trial

You might also like

Aprendizaje profundo a escala

Aprendizaje profundo a escala

Suneeta Mall
IA explicable para profesionales

IA explicable para profesionales

Michael Munn, David Pitman

Publisher Resources

ISBN: 9781098185558