
778 Kap. XIII: Analyse von Lebensdauern und Zuverlässigkeit von Systemen
B. Der cttot-Test nach Epstein
Epstein (1960) schlägt den cttot-Test (Cumulative Total Time on Test-Test) zur
Prüfung von H
0
und Ηό vor, der auf den kumulativen Gesamtpriifungszeiten
i
T(x<j)) = Σ Dj für i = l,..., η
j=l
basiert.
Bei diesem Test, der ebenfalls unabhängig vom Skalenparameter ist, wird die
Hypothese H
0
verworfen, falls für die cttot (Cumulative Total Time on Test)-
Statistik
η— 1
j
η— 1
Σ Σ Di Σ (
n—
J)Dj
η
n
-
n
^
Κ
η;1-α
Σ
D
t Σο,
t= 1
1=1
gilt, und die Hypothese Ηό wird verworfen, falls gilt
K
n
gk
n;i
.
Einige von Barlow (1968) simulierte kritische Werte k
n
.