Statistik, 15th Edition

Kap. XIII: Analyse von Lebensdauern und Zuverlässigkeit von Systemen 803

somit ist

X*

= e-14,872012 = 3,5 -10"

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der gesuchte Schätzer für die Ausfallrate λ bei Τ = 273 °K und V = 10 Volt.

Zu bemerken ist, daß die Bestimmung der Schätzwerte ati mit obiger Matrix X

T

X

numerisch instabil ist und daß daher mit hoher Stellenzahl gerechnet bzw. das

andere in Kap. X, Abschnitt 5 vorgestellte Verfahren benutzt werden sollte.

Den zeitraffenden Prüfungen kommt neben der bisher besprochenen Aufgabe

der Ermittlung von Zuverlässigkeitscharakteristika langlebiger Objekte eine weite-

re wichtige Aufgabe zu.

4.2. Screening-Tests, Burn-Ins

Ergibt sich etwa fü ...